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Nicomp 380 Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析
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Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
380 Z3000 亚微米粒径电位检测仪 参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰
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380 Z3000 纳米粒度仪
有关) Nicomp 380 ZLS采用动态光散射原理,对样品进行粒度检测的同时还可以测试样品的Zeta电位值。本仪器使用模块化设计,可以根据客户需要进行个性化功能化设计。仪器检测灵敏度高,采用
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BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪
●电泳光散射●静态光散射 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS
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BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪
颗粒的粒径及粒径分布,Zeta 电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数 产品介绍BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
* 41 cm * 600px重量约26kg(与配置有关) 基本概述 Nicomp 380 采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布,粒径检测范围 0.5nm – 6μm。粒度分析
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关)专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 Nicomp 380 N3000 纳米粒径分析仪采用动态光散射原理检测分析颗粒的粒度
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BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪
纳米粒度及Zeta电位分析仪 是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的顶级光学检测系统。 该系统中集成了背向 +90°动态光散射 DLS、电泳光散射
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美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪
美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数:所检测粒径范围宽:从5 nm至1000um;可测量参数:粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减
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Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪
s/m Zeta-ASP是高浓度胶体和乳液的特性参数检测仪。Zeta-APS 高浓度纳米粒度及Zeta电位分析仪典型应用:综合稳定水泥浆,陶瓷,化学机械研磨,煤浆,涂料,化妆品,环境保护禅选法矿物
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